材料结构分析  080502M04001H

学期:2020—2021学年(春)第二学期 | 课程属性:专业核心课 | 任课教师:陈广超,黄继军
授课时间: 星期一,第5、6 节
授课地点: 教一楼207
授课周次: 1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16
授课时间: 星期三,第5、6 节
授课地点: 教一楼207
授课周次: 1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16
课程编号: 080502M04001H 课时: 60 学分: 3.00
课程属性: 专业核心课 主讲教师:陈广超,黄继军 助教:
英文名称: Structural Characterization Techniques in Material Science 召集人:

教学目的、要求

让学生了解与掌握材料的显微组织、结构、微区成分和力学特性的分析方法。 本课程的教学目的:通过学习,使学生能够掌握X射线分析的实验技术,从而能够正确进行材料物相分析和应力测定,了解晶体材料X形貌技术的应用特点;学会分析和标定电子透射和高分辨图样,了解EDX和EELS的使用方法。

预修课程

1.大学物理,
2.固体物理或金属学 3.材料科学与材料工程的基础知识课

教 材

无。但是有一些参考书籍。

主要内容

X射线的性质和获得;X射线与固体的相互作用;晶体衍射基础;倒易点阵;X射线衍射几何原理;晶体衍射强度;X射线衍射技术中的劳厄法、粉未法、旋转晶体法;X射线衍射技术应用中的物相鉴定;应力测定; X-射线形貌学概论;形貌学实验技术中的取向衬度形貌技术、透射投影形貌术、反射形貌术;同步辐射技术原理;同步辐射应用中的X射线吸收精细结构、X射线吸收的近边结构电子成像理论;电子衍射基本理论;衍射花样标定;相间的取向关系;衍射衬度理论;高分辨电子显微图像的解释;高分辨技术的应用;分析电镜技术中的电子与固体的相互作用;X射线能谱;电子能量损失谱。

参考文献

1、周玉,武高辉,《材料分析测试技术》,哈尔滨工业大学出版社,1998年 2、 许顺生,冯端主编,《X射线衍衬貌相学》,科学出版社,1987年 3、 朱静,叶恒强等,《高空间分辨分析电子显微学》,科学出版社,1987年 4、P. Hirsch, et al, Electron Microscopy of Thin crystals, Robert E. Krieger Publishing Co. Inc., Huntington, New York, 1965