辐射成像原理与技术  082700M01004H

学期:2020—2021学年(春)第二学期 | 课程属性:一级学科核心课 | 任课教师:魏龙,章志明,魏存峰
授课时间: 星期五,第10、11、12 节
授课地点: 教二楼118
授课周次: 1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20
课程编号: 082700M01004H 课时: 60 学分: 4.00
课程属性: 一级学科核心课 主讲教师:魏龙,章志明,魏存峰 助教:贠明凯
英文名称: Principles and techniques of radiation imaging 召集人:

教学目的、要求

完成本课程授课后,学生能够系统掌握辐射成像相关基础知识、实验方法及技巧,了解各相关领域技术发展现状及前沿方向;
熟悉常见辐射成像设备的系统构成、工作原理、基本开发流程及相关应用场景;
初步掌握辐射成像技术研究及设备开发方面的方法和技术,能够更快、更好的融入科研工作。

预修课程

核电子学

教 材

主要内容

辐射成像技术的物理基础和基本原理(24课时)
授课老师:魏龙
绪论(2课时)
绪论一 课程简介(1课时)
绪论二 辐射防护(1课时)
带电粒子与物质的相互作用(1课时)
射线的产生(3课时)
韧致辐射、特征辐射与X射线(1课时)
核素衰变(1课时)
湮没反应与γ射线(1课时)
附件:正电子谱学原理与应用

射线的探测(10课时,难点)
射线与物质的相互作用之康普顿散射(3课时)
射线与物质的相互作用之光电效应和电子对效应(1课时)
闪烁材料及其发光原理(2课时)
光电转换器件(1课时)
半导体探测器(2课时)
射线探测中的统计规律和误差传递(1课时)
信号的处理(3课时)
断层成像的数学原理基础(1课时)
图像质量评价(1课时)
中子探测与成像(1课时)
μ子探测与成像(1课时)
答疑(1课时)
?
γ射线成像技术及成像系统设计(15课时)
授课老师:章志明,起始时间:2020-03-27
PET成像原理及应用(1课时)
PET中常用的核素和示踪剂(1课时)
PET中的探测器(2课时)
PET读出电子学(2课时)
PET中的数据获取电子学(1课时)
PET中的符合电子学(1课时)
PET中的数据校正(1课时)
PET中的图像重建(1课时)
PET系统的性能评价(1课时)
PET影像定量分析(1课时)
SPECT成像技术基本原理及应用(1课时)
SPECT案例设计分析(1课时)
γ相机成像原理及孔径编码准直器设计(1课时)
?
X射线成像技术及成像系统设计(15课时)
授课老师:魏存峰
绪论(1课时)
数字X射线成像技术(DR)(2课时)
DR成像原理和系统构成(1课时)
DR系统研制案例分析(1课时)
X射线计算机断层成像技术( CT)(12课时)
CT成像原理和系统构成(3课时)
CT重建算法与数据校正(3课时)
CT系统性能评价与研制案例分析(3课时)
能谱CT(3课时)
考试(3课时)

参考文献

1. Handbook of Particle Detection and Imaging, Springer Heidelberg Dordrecht London New York, ISBN 978-3-642-13270-4 
2. Radiation Physics for Medical Physicists, Springer Heidelberg Dordrecht London New York , ISBN 978-3-642-00874-0 
3. Experimental Techniques in Nuclear and Particle Physics, Springer Heidelberg Dordrecht London New York, ISBN 978-3-642-00828-3
4. Physics and Radiobiology of Nuclear Medicine, Springer Heidelberg Dordrecht London New York, ISBN 978-1-4614-4011-6
5. Emission Tomography - The Fundamentals of PET and SPECT, Elsevier Academic Press, ISBN 0-12-744482-3
6. Semiconductor Radiation Detectors, Springer Heidelberg Dordrecht London New York, ISBN 978-3-540-71678-5 
7. Basics of PET Imaging, Springer Heidelberg Dordrecht London New York, ISBN 978-3-319-16422-9 
8. Inorganic Scintillators for Detector Systems, Springer Heidelberg Dordrecht London New York, ISBN 3-540-27766-8